OLED 及TP 自动光学检测设备
OLED面板自动光学检测设备
针对OLED 面板制程中雷射分离时可能产生的Particle缺陷提供高精准检测，膜内及膜外皆可精准检出刮伤、残胶等多种缺陷。
触控面板玻璃检测设备
针对触控面板制程中尚未切割的大尺寸基板提供精准检测，可以检出ITO导电薄膜、线路等缺陷。
保护玻璃自动光学检测设备
CG AOI可采用In-line或Off-line模式针对小尺寸的外观保护玻璃进行外观检测，可检缺陷包括刮伤、凹痕、ITO等缺陷。
外观光学六面检测设备
六面检检测设备为独家客制化之多角度外观检测系统，结合机械手臂与软体系统设计精准判断检测位置，客制化的机构及光源可依需求客制调整。
