LCD 自动光学检测设备
Array 高解析度自动光学检测设备
Array AOI 针对Array段制程的基板提供精准自动光学检测分析，可检最大基板尺寸达到G10.5。
彩色滤光片自动光学检测设备
CF AOI 针CF段制程的基板提供精准自动光学检测分析，可检最大基板尺寸达到G10.5。
配向膜自动光学检测设备
PI AOI 针对Cell段制程中配向膜涂布后可能产生的涂布不均、Particle等缺陷进行精准检测，可检最大基板尺寸达到G10.5。
框胶制程自动光学检测设备
Seal AOI 针对Cell段框胶黏合后制程中可能产生的缺陷进行高精准扫描检测，可检最大基板尺寸达到G10.5。
In-line OD/膜厚/色度自动量测设备
ILSP 采用高精密量测仪器并针对Cell段制程CF于BM、R、G、B、OC及PS涂布后进行色度量测、膜厚量测、涂布异常检测等精密检测分析，可检最大基板尺寸达到G10.5。
PSVA自动光学检测设备
NPMVA针对CF制程中CF和TFT的玻璃贴合后尚未裁切之料片，通电进行液晶状况检测，可检出Mura、液晶异常或异物混入等缺陷；同时具备辉度量测、灰阶对比、反应时间量测分析功能，是全方位的自动光学检测设备。可检最大基板尺寸达到G10.5。
TFT-LCD 制程缺陷自动拍照机
针对TFT-LCD全制程提供精准的缺陷复检，即时分析检测资讯，有效提升产品品质。
Mura 缺陷自动光学检测设备
DM针对涂布后、曝光前所产生之Mura进行精准检测，亦可适用于Array in-line/ final、CF in-line/ final、LCD final等各制程基板检测，可检最大基板尺寸达到G10. 5。
切割后玻璃外观光学检测设备
Cut AOI 针对偏贴前的大尺寸玻璃基板进行外观检测，可检最大基板尺寸达到G10.5。
PCS 外观光学检测设备
PCS AOI 针对偏贴前已切割的小尺寸玻璃基板进行外观检测，可检基板尺寸为4"~15.6"。
