OLED 及 TP 自動光學檢測設備
OLED面板自動光學檢測設備
針對OLED 面板製程中雷射分離時可能產生的Particle缺陷提供高精準檢測，膜內及膜外皆可精準檢出刮傷、殘膠等多種缺陷。
觸控面板玻璃檢測設備
針對觸控面板製程中尚未切割的大尺寸基板提供精準檢測，可以檢出ITO導電薄膜、線路等缺陷。
保護玻璃自動光學檢測設備
CG AOI可採用In-line或Off-line模式針對小尺寸的外觀保護玻璃進行外觀檢測，可檢缺陷包括刮傷、凹痕、ITO等缺陷。
外觀光學六面檢測設備
六面檢檢測設備為獨家客製化之多角度外觀檢測系統，結合機械手臂與軟體系統設計精準判斷檢測位置，客製化的機構及光源可依需求客製調整。
