LCD 自動光學檢測設備
Array 高解析度自動光學檢測設備
Array AOI 針對Array段製程的基板提供精準自動光學檢測分析，可檢最大基板尺寸達到G10.5。
彩色濾光片自動光學檢測設備
CF AOI 針CF段製程的基板提供精準自動光學檢測分析，可檢最大基板尺寸達到G10.5。
配向膜自動光學檢測設備
PI AOI 針對Cell段製程中配向膜塗佈後可能產生的塗佈不均、Particle等缺陷進行精準檢測，可檢最大基板尺寸達到G10.5。
框膠製程自動光學檢測設備
Seal AOI 針對Cell段框膠黏合後製程中可能產生的缺陷進行高精準掃描檢測，可檢最大基板尺寸達到G10.5。
In-line OD/膜厚/色度自動量測設備
ILSP 採用高精密量測儀器並針對Cell段製程CF於BM、R、G、B、OC及 PS塗佈後進行色度量測、膜厚量測、塗佈異常檢測等精密檢測分析，可檢最大基板尺寸達到G10.5。
PSVA自動光學檢測設備
NPMVA針對CF製程中CF和TFT的玻璃貼合後尚未裁切之料片，通電進行液晶狀況檢測，可檢出Mura、液晶異常或異物混入等缺陷；同時具備輝度量測、灰階對比、反應時間量測分析功能，是全方位的自動光學檢測設備。可檢最大基板尺寸達到G10.5。
TFT-LCD 製程缺陷自動拍照機
針對TFT-LCD全製程提供精準的缺陷複檢，即時分析檢測資訊，有效提升產品品質。
Mura 缺陷自動光學檢測設備
DM針對塗佈後、曝光前所產生之Mura進行精準檢測，亦可適用於Array in-line/ final、CF in-line/ final、LCD final等各製程基板檢測，可檢最大基板尺寸達到G10.5。
切割後玻璃外觀光學檢測設備
Cut AOI 針對偏貼前的大尺寸玻璃基板進行外觀檢測，可檢最大基板尺寸達到G10.5。
PCS 外觀光學檢測設備
PCS AOI 針對偏貼前已切割的小尺寸玻璃基板進行外觀檢測，可檢基板尺寸為4"~15.6"。
